原子力显微镜(AFM)

1. 主要功能及应用范围:

AFM常规测量模式——接触模式和轻敲模式的基础上,布鲁克开发出各种各样的新型扫描模式,测量材料的电学、磁学、力学等各项性质。新模式包括PeakForce TappingScanAsyst®PeakForce QNM®PeakForce CapturePeakForce TUNAPeakForce KPFM等。Dimension Icon还配备了Bruker专利技术ScanAsyst(自动扫描成像模式),用户可以简易快捷地获得重复性更好的数据,并且降低了对客户操作经验和操作水平的要求。Bruker Dimension® Icon™ 原子力显微镜为工业界和科研界纳米领域的研究者带来了全新的AFM应用体验,其测试功能强大,操作简便易行。全新的系统设计,实现了前所未有的低漂移和低噪音水平,现在用户只需要几分钟就可获得真实准确的扫描图像。

2. 主要部件:

控制器、防震台、扫描管、氮气减震设备、计算机等。

3.主要技术指标:

专利传感器设计实现了与开环噪音水平一样的闭环性能,用于大型样品前所未见的分辨率测试和针尖扫描AFM ;显著减小基底噪音,能够在接触模式下以原子力水平成像,TappingMode™中少于30pm ;漂移率小于每分钟200pm,产生无扭曲图像,优越的生产率 ;综合反馈对准工具带来快速优化的探针配置; 高分辨率相机和X-Y配置带来快速高效的样品导航性能;新型ScanAsyst成像和带有默认试验模式的NanoScope®软件,将十年的知识精华融入这个预先配置设置中 优秀的多功能性;针尖和样品的开放性入口,可进行大量的标准性和定制性实验;仪器和软件设计利用了所有当今和未来新进的先进的模式和技术;实用程序脚本提供了半自动测量和分析性能

4.样品要求:

所提供样品需标明样品编号,固体样品表面应尽量平整,粗糙度不能太大;粉末样品需要分散到相应的溶液中,控制好样品浓度,然后滴加到硅片或者云母片上烘干。